SEMINARIO DEL DOTT MUGNAIOLI

Nell'arco dell'ultimo secolo, la diffrazione a raggi X ha permesso la determinazione della struttura atomica di centinaia di migliaia di materiali. Ad oggi, una delle più importanti sfide della cristallografia consiste nella caratterizzazione di minerali e fasi sintetiche nanocristalline. La microscopia elettronica a trasmissione (TEM) e la diffrazione elettronica tomografica (EDT) possono fornire dati strutturali tridimensionali da singoli cristalli di poche decine di nanometri, permettendo così la caratterizzazione di componenti minori di miscele polifasiche anche se caratterizzati da lunghi parametri di cella e strutture altamente complesse.

Giovedi 28 aprile p.v., alle ore 14, presso l'aula C del Dipartimento di Scienze della Terra, Università di Pisa, il dott. Enrico Mugnaioli, ricercatore presso il Dipartimento di Scienze Fisiche, della Terra e dell'Ambiente dell'Università di Siena, terrà un seminario dal titolo "Applicazioni TEM e EDT alle scienze geologiche e dei materiali tecnologici". Il seminario e' rivolto a studenti della Laurea Magistrale, dottorandi, ricercatori e docenti.

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